常温固态硬盘BIT老化箱可以适用于M2、SATA接口固态硬盘的BIT老化测验，常温BIT测验有多个测验项目，下面为我们做简略介绍。
测验根据：YD T 3824-2021 面向互联网使用的固态硬盘测验标准
3.写饱满测验（FIO）：丈量被测设备对继续随机4KiB写的IOPS曲线.Trim前后比较测验：
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